一、核心功能

1. 高分辨率三維成像：憑借微米級甚至納米級焦點的 X 射線源，可獲取精度達 1-10μm 的三維斷層圖像，清晰顯示產(chǎn)品內(nèi)部的微小結(jié)構(gòu)，如芯片引線鍵合、材料孔隙、微小裂紋等。
2. 無損缺陷檢測：無需拆解或破壞樣品，就能識別內(nèi)部隱藏缺陷，包括裂紋、氣泡、夾雜、疏松、裝配錯位等，且可量化缺陷的大小、位置和形態(tài)。
3. 結(jié)構(gòu)尺寸測量：基于三維圖像進行精準尺寸測量，不僅能測表面可見尺寸，還能測量內(nèi)部腔體、孔位、壁厚等無法直接接觸的尺寸，精度可達微米級，滿足精密零件的檢測需求。
4. 逆向建模與分析：將掃描獲得的三維數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為三維模型，用于產(chǎn)品逆向設(shè)計、結(jié)構(gòu)優(yōu)化，或與設(shè)計圖紙對比，分析實際產(chǎn)品與設(shè)計方案的偏差。

二、主要用途

• 電子行業(yè)：檢測芯片、電路板的內(nèi)部焊接缺陷（如虛焊、空焊）、封裝氣泡，以及微型電子元件的結(jié)構(gòu)完整性。
• 汽車行業(yè)：針對發(fā)動機噴油嘴、渦輪葉片等精密零部件，檢查內(nèi)部孔隙、裂紋，同時測量關(guān)鍵內(nèi)部尺寸，確保符合裝配標準。
• 航空航天行業(yè)：用于航天器零部件（如鈦合金構(gòu)件、復(fù)合材料部件）的無損檢測，排查內(nèi)部微小裂紋、夾雜等隱患，保障極端環(huán)境下的使用安全。
• 材料科學(xué)領(lǐng)域：分析金屬、陶瓷、復(fù)合材料的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)，如孔隙分布、晶粒形態(tài)，研究材料的力學(xué)性能與內(nèi)部結(jié)構(gòu)的關(guān)聯(lián)。
• 醫(yī)療器械行業(yè)：檢測人工關(guān)節(jié)、植入式醫(yī)療器械的內(nèi)部結(jié)構(gòu)完整性，確保無缺陷，同時驗證其尺寸精度是否符合醫(yī)療使用標準。